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SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀（數(shù)顯
產(chǎn)品介紹測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。 技術(shù)參數(shù)熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃
測量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時）
±2℃（在200～300℃時）
光學(xué)放大倍數(shù)：目鏡10X；物境4X
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SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀 |
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X4|X5|X6系列顯微熔點(diǎn)測定儀 |
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SGW X-4A顯微熔點(diǎn)儀 |
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RDY-1顯微熔點(diǎn)儀 |
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WRR熔點(diǎn)儀 |
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WRS-1B數(shù)字熔點(diǎn)儀 |
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